图1 LED焊球良品（扫描电镜SEM）                       图2 LED焊球不良品（扫描电镜SEM） 图3 LED焊球（扫描电镜SEM

聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体

岩心聚焦离子東扫描电镜（FIB-SEM）图像存在灰度分布不均及孔隙内局部高亮等现象，采用传统图像分割算法所得孔隙分割精度较低，而基于轮廓的分割算法需对孔隙进行人工标记，操作繁琐且无法精确提取孔隙提岀

的情感分类方法。利用多个方面注意力模块同时对不同方进行独立训练，使每个方面信息与注意力操作互不影响，各自进行注意力参数的学习与调整，以充分提取特隐藏信息，从而更准确地识别不同方面的凊感极性。在 Sem eval数据集上

NXP Semiconductor designed the LPC2400 microcontrollers around a 16-bit/32-bitARM7TDMI-S CPU core with real-time debug interfaces that include both JTAG andembedded Trace. The LPC2400 microcontrollers have 512 kB of on-chip high-sp

  图1 PMMA颗粒形貌（扫描电镜SEM）       图2 PMMA颗粒形貌（扫描电镜SEM）       图3 PMMA颗粒形貌（扫描电镜SEM）   审核编辑：ymf  

SEM IP在上板调试过程中有时会出现一些错误，比如无法执行IP的插错纠错功能，或者自身的初始化无法完成等等，需要对SEM IP本身进行调试定位。我们最推荐客户去查看IP从上电开始打印出来的串口信息。这里面的log不仅包含了IP从初始化开始经历的一系列状态，还能清楚地显示出一些事件的时间戳。

本视频主要详细介绍了sem数据分析方法，分别有趋势分析法、比重分析法、TOPN分析法、四象限分析法。

一、FIB设备型号：Zeiss Auriga Compact 聚焦离子束显微镜 (FIB-SEM) 聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体

聚焦离子束（FIB）与扫描电子显微镜（SEM）耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体

0引 言 根据国内外的相关文献，研究和发展图像处理工具，改善图像质量是当今研究的热点。图像

聚焦离子束（FIB）与扫描电子显微镜（SEM）耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体

PCB失效原因越来越多，在以前看起来难以发现的问题，现在可以用扫描电子显微镜与能谱（SEM EDS）分析出来。本文介绍了在PCB生产过程中利用SEM EDS发现的三个较为经典的案例，介绍了该技术在实际解决问题过程中的关键作用。

本文简介新型工业扫描电镜（SEM）的性能指标、功能特点和典型应用举例，着重描述从整体设计到关键部件、从指导理念到制造层面的特色创新。

SEM的工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经

1. 设备型号 日立-扫描电镜-SU 1510, 配备能谱仪eds 2. 原理 SEM的工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说

全球测试设备厂爱德万测试 （Advantest） 宣佈推出专为晶圆所开发的全新多视角量测扫描式电子显微镜 （MVM-SEM） 系统E3310，这套系统可在各种晶圆上量测精细接脚间距图样，以Advantes

SEM观察和EDX测试能够准确的找到肇事车辆，为司法鉴定提供准确而有力的证据。   以下为某交通事故的案例：   样品： 1.汽车保险杆漆      2.裤子上的纤维 分析方法： 1.SEM 形貌观察，未喷金直接观察     2.EDX元素成分测试        

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Create-SEM 高精度电路板制作仪是美国Vplex 公司最新研制出的高科技成果，该产品的推出，成功地解决了困扰电子工程师多年的难题开发制板费用高、周期长，因而成为了电子产品开发的

加利福尼亚州圣塔克拉拉 - 应用材料公司今天在这里宣布了它所说的岩石SEM测试服务，超高分辨率sem。详细咨询金鉴在线客服。 审核编辑：ymf  

扫描式电子显微镜 (SEM)扫描式电子显微镜，又扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的电子束(Electron Beam)进行样品表面扫描